เครื่องทดสอบอายุสากล

(สินค้า 143 ตัวพร้อมให้เลือกสรร)

เครื่องทดสอบอายุเร่งการไหลเวียนอากาศร้อนเครื่องทดสอบการไหลเวียนของอากาศป้องกันสีเหลือง

เครื่องทดสอบอายุเร่งการไหลเวียนอากาศร้อนเครื่องทดสอบการไหลเวียนของอากาศป้องกันสีเหลือง

เครื่องทดสอบอายุเร่งการไหลเวียนอากาศร้อนเครื่องทดสอบการไหลเวียนของอากาศป้องกันสีเหลือง

เครื่องทดสอบอายุเร่งการไหลเวียนอากาศร้อนเครื่องทดสอบการไหลเวียนของอากาศป้องกันสีเหลือง

เครื่องทดสอบอายุเร่งการไหลเวียนอากาศร้อนเครื่องทดสอบการไหลเวียนของอากาศป้องกันสีเหลือง

US$4,300.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชุด

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

ห้องทดสอบอายุของหลอดไฟซีนอนแบบตั้งโปรแกรมได้สำหรับแสงแดดและสภาพอากาศจำลอง

US$1,800.00-7,500.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชุด

ซาต้า2.0/2.5/3.0ห้องลดริ้วรอยอุณหภูมิสูงพร้อมการวิเคราะห์พลังงานที่ขยายออกไปสำหรับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมาก

ซาต้า2.0/2.5/3.0ห้องลดริ้วรอยอุณหภูมิสูงพร้อมการวิเคราะห์พลังงานที่ขยายออกไปสำหรับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมาก

ซาต้า2.0/2.5/3.0ห้องลดริ้วรอยอุณหภูมิสูงพร้อมการวิเคราะห์พลังงานที่ขยายออกไปสำหรับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมาก

ซาต้า2.0/2.5/3.0ห้องลดริ้วรอยอุณหภูมิสูงพร้อมการวิเคราะห์พลังงานที่ขยายออกไปสำหรับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมาก

ซาต้า2.0/2.5/3.0ห้องลดริ้วรอยอุณหภูมิสูงพร้อมการวิเคราะห์พลังงานที่ขยายออกไปสำหรับการตรวจสอบการผลิตจำนวนมาก

US$6,850.00-9,590.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชิ้น

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

ห้องทดสอบแรงกระแทกด้วยความร้อนอุณหภูมิต่ำ2โซน

verify

US$4,000.00-12,000.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชุด

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

เครื่องทดสอบปุ่มหนีบนิวเมติกอัจฉริยะเครื่องทดสอบชีวิตสวิตช์แบบหมุนอัจฉริยะ

US$430.00-3,950.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชุด

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานแบบสามแกนปรับแต่งได้, ปุ่มทดสอบความเมื่อยล้าแบบซ้ำๆปุ่มทดสอบแรงกระแทกเครื่องทดสอบอายุ

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานแบบสามแกนปรับแต่งได้, ปุ่มทดสอบความเมื่อยล้าแบบซ้ำๆปุ่มทดสอบแรงกระแทกเครื่องทดสอบอายุ

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานแบบสามแกนปรับแต่งได้, ปุ่มทดสอบความเมื่อยล้าแบบซ้ำๆปุ่มทดสอบแรงกระแทกเครื่องทดสอบอายุ

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานแบบสามแกนปรับแต่งได้, ปุ่มทดสอบความเมื่อยล้าแบบซ้ำๆปุ่มทดสอบแรงกระแทกเครื่องทดสอบอายุ

เครื่องทดสอบอายุการใช้งานแบบสามแกนปรับแต่งได้, ปุ่มทดสอบความเมื่อยล้าแบบซ้ำๆปุ่มทดสอบแรงกระแทกเครื่องทดสอบอายุ

US$190.00-3,021.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชุด

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

หลอดไฟซีนอนระบายความร้อนด้วยลมประหยัดพลังงานสำหรับห้องทดสอบพร้อมการรับประกัน1ปี

US$3,900.00-5,131.00

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชุด

NAND-FLASH BGA ห้องลดอายุ RDT อุณหภูมิสูงสำหรับการทดสอบเสถียรภาพของชิปและการประเมินประสิทธิภาพ

NAND-FLASH BGA ห้องลดอายุ RDT อุณหภูมิสูงสำหรับการทดสอบเสถียรภาพของชิปและการประเมินประสิทธิภาพ

NAND-FLASH BGA ห้องลดอายุ RDT อุณหภูมิสูงสำหรับการทดสอบเสถียรภาพของชิปและการประเมินประสิทธิภาพ

NAND-FLASH BGA ห้องลดอายุ RDT อุณหภูมิสูงสำหรับการทดสอบเสถียรภาพของชิปและการประเมินประสิทธิภาพ

NAND-FLASH BGA ห้องลดอายุ RDT อุณหภูมิสูงสำหรับการทดสอบเสถียรภาพของชิปและการประเมินประสิทธิภาพ

NAND-FLASH BGA ห้องลดอายุ RDT อุณหภูมิสูงสำหรับการทดสอบเสถียรภาพของชิปและการประเมินประสิทธิภาพ

US$24,656.76-27,396.40

การสั่งซื้อขั้นต่ำ: 1 ชิ้น

หมวดหมู่ยอดนิยม

เครื่องมือทดสอบและวิเคราะห์

เครื่องมือทดสอบและวิเคราะห์

อุปกรณ์ห้องปฏิบัติการ

อุปกรณ์ห้องปฏิบัติการ

เครื่องมือสำหรับการวัดและเกจ

เครื่องมือสำหรับการวัดและเกจ

อุปกรณ์ทดสอบ

อุปกรณ์ทดสอบ

การค้นหาที่เกี่ยวข้อง:

เครื่องทดสอบ sbb ผู้ผลิตเครื่องทดสอบอายุ เครื่องทดสอบ1c cx เครื่องทดสอบค่าสัมประสิทธิ์อุณหภูมิต่ำ เครื่องทดสอบอายุการกัดกร่อนของเกลือ เครื่องทดสอบริ้วรอยความดันสูง เครื่องทดสอบ torvane เครื่องทดสอบไอเอฟที เครื่องทดสอบอเนกประสงค์เชิงกล ตัวทดสอบ k slump เครื่องทดสอบ voc เครื่องทดสอบการฉีกขาดสากล เครื่องทดสอบ en71 เครื่องทดสอบ smd อัจฉริยะ ms8910 เครื่องทดสอบการระเบิดอัตโนมัติอิเล็กทรอนิกส์