สถานที่กำเนิด
Shanghai, China
หลักการวิเคราะห์
การวิเคราะห์การเรืองแสง X-ray การกระจายพลังงาน
ช่วงการวัดองค์ประกอบ
องค์ประกอบใดๆจาก na (11)-U(92)
Min. ขีดจำกัดการวัด
CD/HG/BR/cr/pb≤ 2 ppm
รูปร่างตัวอย่าง
ขนาดโดยพลการรูปร่างใดๆที่ผิดปกติ
ประเภทตัวอย่าง
พลาสติก/โลหะ/ฟิล์ม/ผง/ของเหลวฯลฯ
เส้นผ่าศูนย์กลางการเปิดรับตัวอย่าง
2, 5, 8มม.
เครื่องตรวจจับ
เครื่องตรวจจับ Si-PIN หรือ SDD ระบบวิเคราะห์ความสูงของพัลส์ความเร็วสูง